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      當前位置:首頁  >  產品中心  >  3D形貌儀/白光干涉輪廓儀  >  彩色共聚焦輪廓儀

      • QuickPRO-RPS--旋轉剖面儀

        專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計,如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡

        更新時間:2024-01-19
        型號:
        廠商性質:代理商
        瀏覽量:143
      • QuickPRO-3D--表面輪廓儀

        適用于光學、工業和半導體市場的高速、中精度、經濟實惠的表面輪廓儀,納米分辨率彩色共聚焦傳感器(可配制點和線傳感器),為在線過程測量和控制而設計,結構緊湊,易于上下片和操作,可配制成獨立系統(X/Y/Z) 和附加升級至LAS (C/R/Z),多種樣品處理能力

        更新時間:2024-01-19
        型號:
        廠商性質:代理商
        瀏覽量:140
      • QuickPRO-CUBE非接觸式雙表面輪廓儀

        通過集成一對單點,非接觸式,納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速,納米編碼的X/Y/Z協調運動,QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前,后和基準表面3D點云地形,用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。形式不變運動架構允許測量旋轉對稱和更復雜的非軸對稱或自由形狀,最大測量直徑為50mm(高達75mm外徑)。根據鏡頭直徑和3D點云采樣密度的不同,每個鏡頭每個表面的總測量時間從30秒到240秒不等。

        更新時間:2024-01-19
        型號:QuickPRO-CUBE
        廠商性質:代理商
        瀏覽量:152
      • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀

        QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相干斷層掃描 (SD-OCT) 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結合,可以在高達 66 kHz 的單次測量中捕獲透明薄膜樣品中每層的平面。QuickOCT-4D™ 穿透深度(高達 100μm)和軸向分辨率 (5nm) 針對半導體、生命科學和制藥行業的多層透明薄膜、平面基板和功能層的測量進行了優化。

        更新時間:2024-01-19
        型號:
        廠商性質:代理商
        瀏覽量:140
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