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      • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統

        FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件,FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。

        更新時間:2024-01-19
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        廠商性質:代理商
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