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            • FS-1FilmSense多波段橢偏儀

              FilmSense多波段橢偏儀可通過(guò)橢偏參數、 透射/反射率等參數的測量,快速實(shí)現光學(xué)參數薄膜和納米結構的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。

              更新時(shí)間:2024-03-28
              型號:FS-1
              廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
              瀏覽量:752
            • 全光譜橢圓偏光測厚儀SE950

              Raditech致力于光學(xué)檢測設備,在光學(xué)量測設備領(lǐng)域專(zhuān)業(yè)度高、能提供整合性解決方案。推出第一臺國人自制的「全光譜橢圓偏光量測儀」及「全光譜反射式膜厚量測儀」,能協(xié)助產(chǎn)業(yè)界邁向更精密化、更微細化,技術(shù)與國際大廠(chǎng)并駕齊驅?zhuān)a(chǎn)品精確度高、價(jià)格具競爭力,穩健邁向國內自制最高質(zhì)量之精密光學(xué)量測設備制造商。

              更新時(shí)間:2024-04-03
              型號:
              廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
              瀏覽量:375
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