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      UltraFilm薄膜測量系統

      簡要描述:系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術,是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的系統。

      • 產品型號:
      • 廠商性質:代理商
      • 產品資料:
      • 更新時間:2024-01-19
      • 訪  問  量: 158

      詳細介紹

      系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術,是國內可以實現同質膜厚全自動檢測的系統。


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      *1:靜態精度或可稱為同點位多次連續測量的最大偏差值,數據為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結果

      *2:多次取放測量同點位數據的最大三倍標準差值,數據為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結果



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