FSM413紅外激光測厚儀產品簡介:
1、利紅外干涉測量技術,非接觸式測量。
2、適用于所有可讓紅外線通過的材料硅、藍寶石、砷化鎵、磷化銦、碳化硅、玻璃、石 英、聚合物…
FSM413紅外激光測厚儀規格:
1、測量方式:紅外干涉(非接觸式)。
2、樣本尺寸:50、75、100、200、300 mm, 也可以訂做客戶需要的產品尺寸。
3、測量厚度:15—780μm (單探頭);3 mm (雙探頭總厚度測量)。
4、掃瞄方式:半自動及全自動型號;另2D/3D掃瞄(Mapping)可選。
5、襯底厚度測量:TTV、平均值、小值、大值、公差。
6、粗糙度:20—1000Å (RMS)。
7、重復性:0.1μm (1 sigma)單探頭*;0.8 μm (1 sigma)雙探頭*。
8、分辨率:10 nm。
9、設備尺寸:413-200: 26”(W) x 38” (D) x 56” (H);413-300: 32”(W) x 46” (D) x 66” (H) 。
10、重量:500 lbs。
11、電源:110V/220VAC。
12、真空:100 mm Hg。
13、樣本表面光滑(一般粗糙度小于0.1μm RMS);150μm厚硅片(沒圖案、雙面拋光并沒有摻雜)。